Cуществует довольно простой путь для измерения кондуктивных помех и проверки их на соответствие стандартам. Об этом рассказывается в статье «Измерение уровня кондуктивных помех с помощью LTspice«. Статья Владимира Макаренко была опубликована в специализированном журнале «Электронные Компоненты и Системы» (ЭКиС) №1-2021.
В статье приведена краткая информация об особенностях измерения кондуктивных помех, создаваемых импульсными источниками питания. Рассмотрен пример измерения спектра помех в программе LTspice и пересчета его в спектр, соответствующий требованиям для проверки на соответствие стандартам электромагнитной совместимости.
В свете актуальности проблемы обеспечения ЭМС, статья может быть полезной широкому кругу разработчиков электронной аппаратуры. Читаем?
За консультациями по поставкам новейших компонентов и систем обращайтесь в отдел электронных компонентов научно-производственной фирмы VD MAIS – официального дистрибьютора продукции Analog Devices и профессионального поставщика инновационных решений для высокотехнологичных отраслей промышленности Украины.
Лайкнуть
Твитнуть