Виробництво електроніки (251)

Як обрати систему AOI* (частина 3): тривалість робочого циклу, портативність програми та контроль процесів

* AOI (Automatic optical Inspection) - Автоматизований оптичний контроль У третій частині ми поговоримо про інші критерії вибору AOI, які часто зустрічаються: час роботи, можливість передачі програм між лініями та корисність згенерованих даних для керування процесом. Час циклу (Cycle Time, ...

Image: Як вибрати систему AOI* (частина 2): час програмування проти FAR та FCR

Як вибрати систему AOI* (частина 2): час програмування проти FAR та FCR

Image: Як обрати систему AOI* (частина 1)

Як обрати систему AOI* (частина 1)

Image: Вороги процесу нанесення захисного покриття (частина 2)

Вороги процесу нанесення захисного покриття (частина 2)

Image: Влияние тока на рост вискеров олова в паяном соединении
Поверхневий монтаж

Влияние тока на рост вискеров олова в паяном соединении

Image: Вороги процесу нанесення захисного покриття (частина 1)

Вороги процесу нанесення захисного покриття (частина 1)

Image: Що таке поверхнева енергія і як вона впливає на захисне покриття?

Що таке поверхнева енергія і як вона впливає на захисне покриття?

Image: Проблема наявності бульбашок у шарах захисного покриття

Проблема наявності бульбашок у шарах захисного покриття

Image: Электромиграция
Виробництво електроніки

Электромиграция

Image: Інновації в управлінні теплом: теплопровідні матеріали зі зміною фаз

Інновації в управлінні теплом: теплопровідні матеріали зі зміною фаз

Image: Лазерна депанелізація друкованих плат зменшує кількість домішок

Лазерна депанелізація друкованих плат зменшує кількість домішок

Image: Технология упаковки кристаллов микросхем

Технология упаковки кристаллов микросхем

Image: Особенности монтажа микросхем в корпусах MLF

Особенности монтажа микросхем в корпусах MLF