Усі статті (724)

Электромиграция

Электромиграция представляет собой переме­щение ионов в проводнике при протекании тока вследствие передачи энергии от движущих­ся электронов к атомам металла. Учитывать этот эффект имеет смысл лишь при высокой плотно­сти тока, например, в микроэлектронике и подобных структурах. Поскольку размеры эле­ментарных структур интегральных ...

Image: Новые возможности беспроводной связи с использованием WI-FI 7
Нові технології

Новые возможности беспроводной связи с использованием WI-FI 7

Image: Микросхемы для однофазных счетчиков электроэнергии
Електронні компоненти

Микросхемы для однофазных счетчиков электроэнергии

Image: Інновації в управлінні теплом: теплопровідні матеріали зі зміною фаз

Інновації в управлінні теплом: теплопровідні матеріали зі зміною фаз

Image: Особенности проектирования высококачественных весоизмерительных систем
Розробнику електронної апаратури

Особенности проектирования высококачественных весоизмерительных систем

Image: Модули серии MOTION-SPM для управления двигателями
Контроль та автоматизація

Модули серии MOTION-SPM для управления двигателями

Image: Лазерна депанелізація друкованих плат зменшує кількість домішок
Виробництво електроніки

Лазерна депанелізація друкованих плат зменшує кількість домішок

Image: Технология упаковки кристаллов микросхем

Технология упаковки кристаллов микросхем

Image: Семейство микросхем емкостных сенсорных датчиков компании OMRON

Семейство микросхем емкостных сенсорных датчиков компании OMRON

Image: Модели сенсорных датчиков расхода воздуха/газа компании OMRON
Електронні компоненти

Модели сенсорных датчиков расхода воздуха/газа компании OMRON

Image: Дифференциальный усилитель AD8352 со сверхнизким уровнем нелинейных искажений
Розробнику електронної апаратури

Дифференциальный усилитель AD8352 со сверхнизким уровнем нелинейных искажений

Image: Особенности монтажа микросхем в корпусах MLF
Поверхневий монтаж

Особенности монтажа микросхем в корпусах MLF

Image: Проблеми нерівномірного розташування захисних шарів
Виробництво електроніки

Проблеми нерівномірного розташування захисних шарів